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sem3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。
大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。
产品特点（*为选配件）
低电压
碳材料样品，低电压下，穿透深度较小，可以获取样品表面真实形貌，细节更丰富。
毛发样品，在低电压下，电子束辐照损伤减小，同时消除了荷电效应。
低真空
过滤纤维管材料，导电性差，在高真空下荷电明显，在低真空下，无需镀膜即可实现对不导电样品的直接观察。
大视场
生物样品，采用大视场观察，能够轻松获得瓢虫整体形貌及头部结构细节，展现跨尺度分析。
导航&防碰撞
光学导航
想看哪里点哪里，导航更轻松
标配仓内摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品。
手势快捷导航
可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大，进行快捷导航
如框选放大：在低倍导航下，获得样品的大视野情况，可快速框选您感兴趣的样品区域，提高工作效率。
防碰撞技术
采取多维度的防碰撞方案：
1. 手动输入样品高度，精准控制样品与物镜下端距离，防止发生碰撞；
2. 基于图像识别和动态捕捉技术，运动过程中对仓内的画面进行实时监测；
3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬间停止电机，减少碰撞损伤。(*sem3200a需选配此功能）
特色功能
智能辅助消像散
直观反映整个视野的像散程度，通过鼠标点击清晰处，可快速调节像散至**。
自动聚焦
一键聚焦，快速成像。
自动消像散
一键消像散，提高工作效率。
自动亮度对比度
一键自动亮度对比度，调出灰度合适图像。
多种信息同时成像
sem3200软件支持一键切换se和bse的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和
成分信息。
快速图像旋转
拖动一条线，图像立刻“摆正角度”。
丰富拓展性
扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。
sem3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（etd）、背散射电子探测器（bsed）、x射线能谱仪（eds）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（ebsd）、阴极射线（cl）等探测器都可以在sem3200上进行集成。
背散射电子探测器
二次电子成像和背散射电子成像对比
背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。
镀层样品：
钨钢合金样品：
四分割背散射电子探测器——多通道成像
探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。
四个单通道的阴影像
成分像
能谱
led小灯珠能谱面分析结果。
电子背散射衍射
钨灯丝电镜束流大，完全满足高分辨ebsd的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。
该图为ni金属标样的ebsd反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。
| 国仪量子扫描电镜在电子陶瓷中的应用 | 下载0次 | 2022-09-27 |
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